理化科学实验中心
 
仪器设备
仪器介绍
研究分析室
设备管理
更多>>学术活动
更多>>服务电话
您现在的位置:首页>仪器设备>仪器介绍

高分辨透射电子显微镜

( 2010-07-07 )
简介
 
型  号:JEOL – 2010 
厂  商:日本电子株式会社
价  格:45万美元
到货日期:1995 年6月
安装日期:1995 年10月 
验收日期:1996 年3月
联系电话:63601503

仪器功能
 
衍射衬度像,可获得衬度清晰的样品形貌和材料内部的显微结构特征。
高分辨电子显微图像,可获得晶体的一维晶格条纹像二维晶格点阵像和原子结构像。
电子衍射花样,可获得晶体不同取向的电子衍射花样。
X射线能谱,可对试样微小区域的成分作定性和定量分析。

主要性能指标
 
1.主机
  点分辨率:0.194nm  条纹分辨率:0.14nm  加速电压:80,100,120,160,200KV 
  放大倍数: 放大模式:2X103~1.5Х106;低放大模式:50~6Х103  
       选区放大模式8X103~8X105
  相机长度:0.4,0.8,1.2,1.6,2.0 m 
  倾转角度:±15o   束斑尺寸:L模式 20~400 nm  S模式 1.5~50 nm
2.X射线能谱:
  能量分辨率: 133 ev   元素分析范围: B5 ~ U92
  最小分析区域:10 nm    软件功能:   采用牛津ISIS系统
  主要软件是:薄样品成分无标样定量分析程序、厚样品表面成分的无标样定量分析程序。

仪器使用范围
 
本仪器主要用于材料内部的显微结构分析和微区成分的定量分析,主要应用如下:
  物相鉴定,采用电子衍射花样和电子显微图像相结合的方法,对未知物相进行研究判定。
  材料显微结构的表征,如材料的形貌、尺度、晶界、相界、孪晶、层错、位错、取向关系等等,在一定条件下,可获得材料相变过程及显微结构变化的信息。
  高分辨晶格点阵像和原子结构像的获得,可揭示材料在原子分辨尺度上的显微结构细节,对物相鉴定,结构表征更有助益。
  对纳米材料,薄膜材料等的结构研究具有特别的优势。
  利用X射线能谱对材料的微小区域进行定量分析,把材料的结构研究和成分分析结合起来,有益于对材料的全面了解。


相关新闻
欲浏览最佳效果 建议你使用IE4.0版本以上的浏览器 屏幕设置为800*600 增强色16位
地址:安徽省合肥市金寨路96号中国科学技术大学理化科学实验中心